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掃描電鏡的成像原理是怎樣的

掃描電鏡（SEM）的成像原理是通過對樣品表面進(jìn)行掃描和檢測來獲取圖像。

掃描電鏡（SEM）和傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡在工作原理、分辨率、樣品準(zhǔn)備和觀察方式等方面存在顯著的區(qū)別。

在掃描電鏡（SEM）中，探針和探頭是兩個不同的概念，它們用于描述電子束與樣品之間的相互作用。

掃描電鏡（SEM）是一種常用于觀察材料表面形貌和進(jìn)行元素組成分析的儀器。

掃描電鏡（SEM）分析和傳統(tǒng)顯微鏡觀察在原理和觀察能力上存在一些區(qū)別。以下是它們之間的主要區(qū)別：

準(zhǔn)備樣品進(jìn)行掃描電鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）分析需要經(jīng)過一系列步驟。

在臺式掃描電鏡（SEM）的樣品準(zhǔn)備過程中，有幾個關(guān)鍵因素需要注意。

臺式掃描電鏡（SEM）的價格范圍和購買成本是由多個因素決定的。