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掃描電鏡與透射電鏡有何區(qū)別

掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）是兩種常用的電子顯微鏡技術，它們在工作原理、應用范圍和圖像獲取方式上存在顯著區(qū)別。

掃描電鏡（SEM）通常用于觀察導電樣品，因為在常規(guī)的SEM操作中需要對樣品進行金屬導電涂層，以確保樣品表面電荷的平衡和電子的傳導。

掃描電鏡（SEM）在材料科學中有廣泛的應用，主要包括以下幾個方面：

掃描電鏡（SEM）圖像解讀和分析是對樣本表面形貌、組織結構和化學成分等進行研究的重要手段。

在掃描電鏡（SEM）中，蒸發(fā)鍍膜是一種常用的方法，用于在非導電樣品表面形成導電涂層，以提高樣品的導電性，以便在SEM觀察期間獲得更好的圖像質量和信號。

在臺式掃描電鏡（SEM）中，探針電流是指掃描電鏡電子束與樣品表面相互作用產生的電流量。

在使用臺式掃描電鏡（SEM）時，進行電子束校準是確保獲得準確和可靠結果的重要步驟之一。

在臺式掃描電鏡（SEM）中，導電涂膜常用于提高非導電樣品的導電性，以便在SEM觀察時獲得清晰的圖像。