掃描電鏡與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡有什么區(qū)別?
日期:2023-06-20
掃描電鏡(SEM)和傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡在工作原理、分辨率、樣品準(zhǔn)備和觀察方式等方面存在顯著的區(qū)別。
工作原理:傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡使用可見光或近紅外光來照明樣品,并通過透射光來觀察樣品的細(xì)節(jié)。而掃描電鏡則使用電子束來照射樣品,并測(cè)量由樣品表面產(chǎn)生的信號(hào),例如次級(jí)電子和后向散射電子。
分辨率:光學(xué)顯微鏡的分辨率受到光的波長的限制,一般為幾百納米量級(jí)。而掃描電鏡利用電子束的波動(dòng)性,具有較高的分辨率,通常可以達(dá)到納米級(jí)別,甚至亞納米級(jí)別。因此,掃描電鏡可以提供更高的圖像清晰度和更詳細(xì)的表面細(xì)節(jié)。
觀察模式:傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡是通過直接觀察透射光來獲取樣品信息,觀察過程是實(shí)時(shí)的。而掃描電鏡是通過對(duì)樣品表面進(jìn)行掃描和信號(hào)檢測(cè)來獲取圖像,觀察是間接的,需要一定的時(shí)間來獲得圖像。
樣品準(zhǔn)備:傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡對(duì)樣品準(zhǔn)備的要求相對(duì)較低,通常只需將樣品放置在載玻片上即可。而掃描電鏡對(duì)樣品的準(zhǔn)備較為復(fù)雜,通常需要對(duì)樣品進(jìn)行表面涂層、真空處理或金屬化處理,以提高樣品的導(dǎo)電性和表面細(xì)節(jié)的清晰度。
應(yīng)用領(lǐng)域:傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡在生物學(xué)、材料科學(xué)、藥學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用,適用于對(duì)透明樣品和薄片的觀察。掃描電鏡在材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用,尤其適用于對(duì)非透明樣品、表面形貌和納米結(jié)構(gòu)的觀察和分析。
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作者:澤攸科技