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如何在掃描電鏡中準備和處理樣品?

日期:2023-09-22

在掃描電鏡(SEM)中準備和處理樣品是確保獲得高質(zhì)量圖像和準確數(shù)據(jù)的關(guān)鍵步驟。以下是一般的樣品準備和處理步驟:

樣品選擇: 首先,您需要選擇適合SEM觀察的樣品。樣品通常應具有導電性或需要導電性涂層,因為電子束需要與樣品表面相互作用才能產(chǎn)生圖像。

樣品固定: 樣品需要在觀察期間保持固定,以防止運動或振動影響圖像質(zhì)量。樣品可以使用適當?shù)膴A具、支架或膠粘劑固定到樣品臺上。

導電性涂層: 如果樣品本身不導電,您可能需要對其進行導電性涂層。通常使用金屬涂層(如金或鉑)或碳涂層,以確保電子束可以通過樣品并產(chǎn)生清晰的圖像。

樣品切割和磨削: 如果樣品過大或太厚,可能需要切割或磨削以獲得所需的形狀和厚度。這通常需要使用適當?shù)那懈罟ぞ吆湍ハ髟O備。

樣品干燥: 樣品在進入SEM之前須保持干燥,以防止水分對電子束產(chǎn)生干擾。使用氣體流、真空或化學方法來去除任何殘留的水分。

金屬涂層: 如果需要,可以將樣品表面涂覆薄薄的金屬層。這有助于提高導電性和圖像質(zhì)量。

安裝樣品: 樣品準備好后,將其小心地安裝到SEM樣品臺上,并確保固定牢固。

真空抽?。?SEM需要在真空環(huán)境中操作,因此須抽取空氣,以確保電子束不會與氣體分子發(fā)生碰撞。在SEM中建立所需的真空需要時間,通常需要一段預熱時間。

參數(shù)設置: 在開始圖像采集之前,需要根據(jù)樣品的特性和實驗目的調(diào)整SEM的參數(shù),包括加速電壓、電流、對焦和掃描速度。

圖像采集: 一旦樣品準備和SEM參數(shù)設置完成,就可以開始采集圖像??梢赃x擇不同的檢測模式,如二次電子成像或反射電子成像,以獲取不同類型的信息。

數(shù)據(jù)分析: 處理和分析獲得的SEM圖像和數(shù)據(jù),以滿足您的研究或分析目的。

ZEM20臺式掃描電鏡

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作者:澤攸科技