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掃描電鏡的探針污染如何影響成像，如何清除？

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，探針污染會顯著影響成像質(zhì)量。

掃描電子顯微鏡（SEM）?的真空系統(tǒng)對成像效果有著重要的影響，因為SEM的基本工作原理依賴于電子束與樣品相互作用，而這些相互作用需要在高真空環(huán)境下進(jìn)行。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?成像過程中，偽影（artifacts）是指非原生的圖像特征，它們并不反映樣品的真實結(jié)構(gòu)或成分。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，工作距離（Working Distance, WD）是指電子槍發(fā)射出的電子束聚焦到樣品表面之間的距離。

掃描電子顯微鏡（SEM）?是分析樣品斷裂面的強(qiáng)大工具，通過其高分辨率的成像能力，結(jié)合多種分析技術(shù)，能夠詳細(xì)研究斷裂機(jī)制、材料的微觀結(jié)構(gòu)以及斷裂模式。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，低導(dǎo)電性的樣品通常會引發(fā)一系列問題，主要是由于電子束與樣品相互作用時產(chǎn)生的電子無法有效地從樣品中逸出，導(dǎo)致樣品表面積累電荷。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，分析樣品表面的化學(xué)成分通常依賴于能量色散X射線光譜（EDS 或 EDX）或波長色散X射線光譜（WDS）等附加檢測器。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，工作距離（Working Distance, WD）是指樣品表面到物鏡（聚焦透鏡）的距離。