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掃描電鏡是否適用于非導(dǎo)電樣品

傳統(tǒng)的掃描電鏡（SEM）對(duì)于非導(dǎo)電樣品確實(shí)存在困難，因?yàn)榉菍?dǎo)電樣品在高真空環(huán)境下容易產(chǎn)生電荷積聚，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降。

掃描電鏡（SEM）圖像的分析處理方法可以幫助提取和解釋有關(guān)樣品的信息。

在掃描電鏡（SEM）中，放大和聚焦是獲取清晰圖像的關(guān)鍵步驟。

在掃描電鏡（SEM）中，低真空問題可能會(huì)導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降或樣品受損。

在掃描電鏡（SEM）中觀察樣品時(shí)，樣品的導(dǎo)電性是一個(gè)重要考慮因素。

掃描電鏡（SEM）實(shí)現(xiàn)高分辨率圖像主要依賴于以下幾個(gè)關(guān)鍵因素：

掃描電鏡的分辨率和放大倍數(shù)可以非常高，具體取決于儀器的型號(hào)和性能。

在準(zhǔn)備樣品以在掃描電鏡中觀察時(shí)，需要遵循一些基本步驟。