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掃描電鏡的工作距離對(duì)圖像對(duì)比度有何影響？

掃描電鏡的工作距離對(duì)圖像對(duì)比度有一定影響。工作距離是指掃描電鏡中電子束與樣品之間的距離，也可以理解為電子束的焦距。

掃描電鏡的探針直徑和形狀對(duì)樣品觀察有著重要的影響。探針直徑和形狀直接影響掃描電鏡成像的分辨率、對(duì)比度、深度焦點(diǎn)和表面形貌等方面。

在掃描電鏡中觀察冷凍樣品時(shí)，有幾個(gè)注意事項(xiàng)需要注意：

掃描電鏡的深度焦點(diǎn)是指在掃描電鏡成像過(guò)程中，樣品表面的不同區(qū)域在垂直方向上仍能獲得較好清晰度的范圍。

掃描電子顯微鏡（SEM）的加速電壓對(duì)圖像分辨率有重要影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）的能譜分析功能是通過(guò)能譜儀（EDS）或能量色散X射線光譜儀（EDX）實(shí)現(xiàn)的。

掃描電子顯微鏡的掃描速度是指電子束在樣品表面掃描的速度。

掃描電子顯微鏡（SEM）的探針電流是指通過(guò)樣品表面的電子束電流。