掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）是兩種常用的電子顯微鏡技術(shù)，它們?cè)诠ぷ髟?、?yīng)用范圍和圖像獲取方式上存在顯著區(qū)別。

工作原理：

SEM：SEM利用高能電子束與樣品表面進(jìn)行相互作用，產(chǎn)生二次電子、反射電子和散射電子等，通過檢測(cè)和記錄這些信號(hào)來獲取樣品表面的形貌和成分信息。

TEM：TEM通過將電子束穿過樣品，測(cè)量和記錄透射電子的強(qiáng)度和散射模式，從而獲得樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、晶體學(xué)信息以及元素成分的定量分析。

圖像獲取方式：

SEM：SEM通過掃描電子束在樣品表面的移動(dòng)，逐點(diǎn)掃描樣品，并記錄從樣品表面反射或散射回來的電子信號(hào)，得到圖像。圖像可以呈現(xiàn)樣品的表面形貌、紋理和特征。

TEM：TEM通過將電子束透射樣品，通過透射電子的衍射或散射模式來獲得樣品內(nèi)部的顯微圖像。這些圖像可以呈現(xiàn)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、界面和缺陷等細(xì)節(jié)信息。

應(yīng)用范圍：

SEM：SEM廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物科學(xué)等領(lǐng)域。它適用于觀察和表征樣品表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)、紋理、顆粒分布等，并可進(jìn)行元素成分分析。

TEM：TEM在材料科學(xué)、生物科學(xué)、納米科學(xué)等領(lǐng)域也有重要應(yīng)用。它可以提供樣品的高分辨率的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，如晶體結(jié)構(gòu)、晶格畸變、原子排列等，并可用于納米材料的形貌和尺寸分析。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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