行業(yè)動態(tài)開拓創(chuàng)新，高端品質(zhì)，真摯服務(wù)

如何預(yù)防掃描電鏡中的樣品表面電荷積累？

在掃描電鏡（SEM）中，樣品表面電荷積累是一個常見的問題，它可能導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降，特別是在非導(dǎo)電或絕緣性材料上。

獲取和保存掃描電鏡（SEM）圖像通常涉及以下步驟：

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像通常是灰度圖像，其中不同的灰度級別代表不同的亮度。

掃描電鏡（SEM）本身不能進(jìn)行化學(xué)成分分析，但可以與能量色散X射線光譜儀（EDS）或能量色散X射線分析儀（EDX）結(jié)合使用來進(jìn)行化學(xué)成分分析。

掃描電子顯微鏡（SEM）元素分析和能譜分析是兩種密切相關(guān)但有著不同焦點的技術(shù)。

掃描電子顯微鏡（SEM）元素分析是一種用于確定樣品表面元素組成的強大工具。

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的顯微鏡，它使用電子束而不是光來照射樣品，從而實現(xiàn)更高的分辨率。

掃描電鏡二次電子成像通常具有較淺的深度焦點，這意味著它對樣品表面上的微小結(jié)構(gòu)和拓?fù)涮卣骶哂休^好的分辨率，但不適用于深度信息的獲取。