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掃描電鏡樣本的尺寸和形狀對參數設置的影響

掃描電鏡（SEM）中的樣本尺寸和形狀對參數設置和成像的影響是很重要的。

電子背散射（BSE）成像是一種掃描電子顯微鏡（SEM）成像技術，它利用來自樣品表面的后向散射電子來生成高對比度的影像。

10月26日至30日，2023年全國電子顯微學學術年會在東莞市盛大召開。本屆大會以“顯微鴻鵠志,世界一片天——懷念郭可信先生”為主題，紀念中國電子顯微學開拓者郭可信先生誕辰100周年。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，為樣品施加導電涂層是一種常見的技術，特別是針對絕緣性樣品或非導電樣品，以增強電子束的導電性，減少充電效應，從而獲得更好的圖像質量。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，偽影和偽色著色技術通常用于增強圖像的對比度和可視化信息。

掃描電鏡的成本取決于多個因素，包括設備型號、品牌、性能、配置選項和附件。

在掃描電鏡中，電子束與樣品之間的距離是一個重要的參數，通常稱為工作距離或工作距離。

要測定掃描電鏡的深度和表面粗糙度參數，通常需要執(zhí)行下列步驟：