共探國(guó)產(chǎn)電鏡未來(lái)┃澤攸科技亮相2023全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)
日期:2023-10-31
10月26日至30日,2023年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞市盛大召開(kāi)。本屆大會(huì)以“顯微鴻鵠志,世界一片天——懷念郭可信先生”為主題,紀(jì)念中國(guó)電子顯微學(xué)開(kāi)拓者郭可信先生誕辰100周年。來(lái)自全國(guó)各地的高校院所、企事業(yè)單位、儀器技術(shù)企業(yè)等電子顯微學(xué)領(lǐng)域?qū)<覍W(xué)者2000余人出席了本次盛會(huì)。
大會(huì)開(kāi)幕式由大會(huì)秘書長(zhǎng)、北京大學(xué)教授高寧主持,大會(huì)主席、中國(guó)科學(xué)院院士張澤,大會(huì)承辦單位南方科技大學(xué)副校長(zhǎng)、中國(guó)科學(xué)院院士賈金鋒,大會(huì)組委會(huì)主席、電鏡學(xué)會(huì)理事長(zhǎng)韓曉東分別致辭。
大會(huì)設(shè)置了多個(gè)分會(huì)場(chǎng),內(nèi)容涵蓋顯微學(xué)理論、技術(shù)和儀器發(fā)展,以及功能材料微結(jié)構(gòu)表征等前沿領(lǐng)域。多家國(guó)內(nèi)外高新技術(shù)企業(yè)應(yīng)邀出席會(huì)議,其中,澤攸科技攜新研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡ZEM20亮相展示,受到與會(huì)代表的熱烈關(guān)注。
展會(huì)期間,澤攸科技研發(fā)工程師在展位上向參展的專家和學(xué)者介紹了ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的創(chuàng)新之處及應(yīng)用場(chǎng)景,獲得廣泛好評(píng)。ZEM系列電鏡在分辨率、成像速度、自動(dòng)化程度等方面都有顯著提升,可廣泛應(yīng)用于材料、生命科學(xué)等領(lǐng)域的表面形貌及組分分析。此外,ZEM系列電鏡還可選擇配置能譜分析儀,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品元素、結(jié)構(gòu)等信息的快速、準(zhǔn)確檢測(cè)。
本次學(xué)術(shù)年會(huì)展示了國(guó)內(nèi)電子顯微學(xué)領(lǐng)域的潛力,其中國(guó)產(chǎn)電鏡及其配件企業(yè)的數(shù)量和規(guī)模不斷壯大,這表明中國(guó)電子顯微學(xué)儀器的自主創(chuàng)新能力不斷提升,國(guó)產(chǎn)電鏡有望取代進(jìn)口產(chǎn)品,逐步走到行業(yè)前臺(tái)。澤攸科技作為國(guó)內(nèi)少數(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)科研儀器反向輸出的企業(yè)之一,象征著國(guó)產(chǎn)電鏡制造業(yè)的崛起,同時(shí)也顯示出中國(guó)在電子顯微學(xué)領(lǐng)域的雄心壯志。未來(lái),澤攸科技將繼續(xù)致力于電子顯微學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展,為中國(guó)的科研事業(yè)和產(chǎn)業(yè)進(jìn)步貢獻(xiàn)更多力量。
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作者:澤攸科技