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如何在掃描電鏡中優(yōu)化樣品的電荷補(bǔ)償

在掃描電鏡（SEM）?中，優(yōu)化樣品的電荷補(bǔ)償非常重要，以確保圖像質(zhì)量和準(zhǔn)確性。

在掃描電鏡（SEM）?中減少樣品的電子束損傷可以通過以下幾種方法實(shí)現(xiàn)：

掃描電子顯微鏡（SEM）?的冷卻臺(tái)（也稱為冷臺(tái)或冷凍臺(tái)）是專門設(shè)計(jì)用于觀察溫度敏感樣品的一種附件。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，高真空（High Vacuum, HV）和低真空（Low Vacuum, LV）模式的切換是為了適應(yīng)不同樣品的成像需求。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，焦點(diǎn)合成（Focus Stacking）是一種提高圖像景深的方法，特別適用于觀察樣品具有較大高度差的復(fù)雜表面。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中進(jìn)行高分辨率的斷層掃描（通常稱為Serial Block-Face Imaging或FIB-SEM斷層掃描）是獲取樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵技術(shù)。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中實(shí)現(xiàn)高分辨率的表面刻畫涉及多方面的優(yōu)化，包括樣品準(zhǔn)備、顯微鏡設(shè)置和操作技巧。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，聚焦調(diào)節(jié)對圖像質(zhì)量有顯著影響。