9月10日~15日，IMC20（第20屆國際顯微學(xué)大會）將在韓國釜山BEXCO會議中心召開舉行，澤攸科技將攜一眾先進科學(xué)儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案，誠邀您共赴盛會！

國際顯微學(xué)大會（International Microscopy Congress）是由國際顯微學(xué)聯(lián)合會 (IFSM)舉辦的國際顯微學(xué)領(lǐng)域的學(xué)術(shù)性會議。大會每4年召開一次，吸引來自全球上千名學(xué)者專家參會，大會同期舉辦聯(lián)合會全體大會，選舉該組織新一屆領(lǐng)導(dǎo)層。第一屆大會于1954年在荷蘭德爾夫特召開。

圖. 澤攸科技展位圖

澤攸科技是一家具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的先進科學(xué)儀器公司，專注于研發(fā)、生產(chǎn)和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機、臺階儀、探針臺等科學(xué)儀器，立志成為具有國際先進水平的材料表征測量儀器及半導(dǎo)體加工科學(xué)儀器制造商。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀等在類的多個產(chǎn)品線，在國內(nèi)外均獲得了高度關(guān)注。

ZEM系列臺式掃描電鏡同時兼具成像質(zhì)量和便攜性，加速電壓可以連續(xù)調(diào)節(jié)，可同時搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺，擁有多項自主創(chuàng)新技術(shù)，滿足不同實驗及檢測需求，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。

PicoFemto系列原位TEM測量系統(tǒng)是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內(nèi)，將您的透射電鏡打造成功能強大的納米實驗室。

PicoFemto系列原位SEM測量系統(tǒng)是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復(fù)雜的測試模塊集成進掃描電鏡，大大提高您掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的IMC20┃9月10日澤攸科技與您相約韓國釜山國際顯微學(xué)大會。