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掃描電鏡圖像處理和增強(qiáng)方法有哪些？

對(duì)于獲得的掃描電鏡圖像，可以使用各種圖像處理和增強(qiáng)方法來改善圖像質(zhì)量、凸顯特定特征以及提取有用信息。

掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可以用來觀察材料的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)。

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種常用于高分辨率表面形貌觀察的科學(xué)儀器。

掃描電子顯微鏡（SEM）中的探針電流是指掃描電子束照射到樣本表面時(shí)，每單位時(shí)間內(nèi)被樣本表面吸收或散射的電子數(shù)量。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，深度探針是指電子束在樣本表面掃描期間所能達(dá)到的深度范圍。

掃描電子顯微鏡（SEM）的工作距離是指樣本表面到電子透鏡（或稱為物鏡）的距離。

掃描電子顯微鏡（SEM）的樣品鍍膜是在需要觀察的樣本表面覆蓋一層薄膜，通常是金屬薄膜，以改善樣本在SEM中的成像性能。

在臺(tái)式掃描電鏡（SEM）中，樣品表面充電問題是一個(gè)常見的挑戰(zhàn)，可能會(huì)導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降、分析誤差等。