在使用掃描電鏡（SEM）之前，進(jìn)行一些準(zhǔn)備工作是十分重要的，這有助于獲得高質(zhì)量的圖像和減少樣品損傷。以下是一些常見的準(zhǔn)備工作：

樣品固定： 樣品需要被適當(dāng)?shù)毓潭ㄔ跇悠放_上，以確保在掃描電鏡中獲得清晰的圖像。固定方法取決于樣品的性質(zhì)。對于生物樣品，可能需要使用化學(xué)固定劑，而對于固體樣品，可以使用膠水、雙面膠等。

去除水分： 如果樣品中含有水分，水分可能在真空環(huán)境下引發(fā)氣泡或?qū)е聵悠窊p傷。對于生物樣品，可能需要進(jìn)行脫水處理。

表面導(dǎo)電： 掃描電鏡對于導(dǎo)電性較差的樣品可能存在挑戰(zhàn)。非導(dǎo)電樣品可能需要進(jìn)行金屬涂層（例如金屬薄層沉積），以提高樣品表面的導(dǎo)電性。

樣品切割和制備： 樣品通常需要被切割成合適的尺寸，以適應(yīng)掃描電鏡的觀察范圍。此外，對于某些樣品，可能需要進(jìn)行特殊的制備步驟，如拋光或腐蝕。

真空處理： 掃描電鏡工作在真空環(huán)境中，因此確保在樣品被引入掃描電鏡前進(jìn)行充分的真空處理，以避免氣體干擾。

避免塵埃： 在處理樣品的過程中，要盡量避免塵埃的進(jìn)入。使用干凈的工具和環(huán)境，并確保掃描電鏡室內(nèi)的清潔度。

標(biāo)記樣品信息： 在樣品上標(biāo)記相關(guān)的信息，如樣品類型、處理步驟、取樣位置等。這對于后續(xù)數(shù)據(jù)分析和樣品再現(xiàn)性非常有幫助。

選擇合適的觀察模式： 掃描電鏡通常有不同的觀察模式，包括二次電子顯微鏡（SEM）和反射電子顯微鏡（REM）。選擇適當(dāng)?shù)挠^察模式根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求。

在進(jìn)行掃描電鏡觀察之前，了解樣品的性質(zhì)以及所需的觀察方式，采取適當(dāng)?shù)臏?zhǔn)備措施，有助于獲得清晰、準(zhǔn)確的顯微圖像。

ZEM20臺式掃描電鏡

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