掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，其分辨率和放大倍數(shù)可以根據(jù)具體的儀器性能而有所不同。一般來(lái)說(shuō)，掃描電鏡的分辨率通常在納米級(jí)別，放大倍數(shù)可以達(dá)到數(shù)萬(wàn)倍以上。

分辨率受到許多因素的影響，包括電子束的能量、樣品的性質(zhì)以及儀器的設(shè)計(jì)和性能。一些高性能的掃描電鏡在水平方向上的分辨率可以達(dá)到幾個(gè)納米以下，垂直方向上的分辨率也在數(shù)十納米以內(nèi)。

放大倍數(shù)取決于掃描電鏡的鏡頭系統(tǒng)和檢測(cè)器的性能。一些掃描電鏡可以提供超過(guò)100,000倍的放大倍數(shù)，使得用戶能夠觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)和表面特征。

請(qǐng)注意，這些數(shù)字是一般性的指導(dǎo)，實(shí)際的分辨率和放大倍數(shù)可能會(huì)因具體的儀器型號(hào)和配置而有所差異。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

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