在掃描電子顯微鏡（SEM）中，非導(dǎo)電樣品通常會(huì)導(dǎo)致電荷堆積和圖像模糊，因?yàn)殡娮邮c樣品相互作用導(dǎo)致電子的發(fā)射和堆積。為了在SEM中有效地觀察非導(dǎo)電樣品，有一些處理方法：

導(dǎo)電涂層：

一種常見的方法是在非導(dǎo)電樣品表面涂覆一層導(dǎo)電性材料，如金屬（例如金、鉑）或碳。這樣可以形成一個(gè)導(dǎo)電層，有助于消除電荷堆積，并提高電子信號(hào)的導(dǎo)電性能。這種導(dǎo)電涂層的方法稱為金屬涂層或碳涂層。

金屬涂層（Sputter Coating）：

利用濺射鍍金屬的方法，將金屬顆粒沉積在樣品表面，形成導(dǎo)電層。這一過程通常稱為金屬涂層或?yàn)R射鍍金屬。

碳涂層（Carbon Coating）：

使用碳的蒸發(fā)或噴霧沉積的方法，將薄層的碳涂覆在樣品表面。這種方法稱為碳涂層。

金屬導(dǎo)電粘貼劑：

在樣品表面使用導(dǎo)電性粘貼劑，如導(dǎo)電膠，以提高電導(dǎo)性。

減小電子束能量：

減小電子束的能量，以減小與樣品相互作用導(dǎo)致的電荷堆積。這可能會(huì)降低分辨率，但有助于避免過多的電子散射。

低真空模式：

在低真空模式下進(jìn)行觀察，減小氣體分子與電子的碰撞，有助于減小電荷堆積的影響。

樣品冷凍：

冷凍樣品可以減緩電子與樣品相互作用，減小電荷堆積的影響。這種方法通常在冷凍樣品觀察中使用。

樣品預(yù)處理：

對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理，如濺射清潔、等離子體清洗等，可以改善樣品的導(dǎo)電性能。

在選擇處理方法時(shí)，需要考慮樣品的性質(zhì)、觀察的目的以及所需的分辨率等因素。不同的樣品可能需要不同的處理方法，而一些方法可能更適用于特定類型的非導(dǎo)電樣品。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡在非導(dǎo)電樣品觀察中的處理方法。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢15756003283(微信同號(hào))。