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臺式掃描電鏡電子束熱漂移的影響和補償方法

日期:2023-11-30

在臺式掃描電鏡中,電子束的熱漂移是一個常見的問題,它可能會影響圖像的分辨率和對樣品的準確定位。熱漂移通常是由于電子束的熱效應導致的。

影響:

圖像模糊: 熱漂移可能導致圖像在掃描過程中發(fā)生模糊,特別是在對準和對焦要求高的情況下。

分辨率降低: 由于電子束位置的不穩(wěn)定性,分辨率可能受到影響,尤其是在高放大倍數(shù)下。

定位誤差: 熱漂移可能導致樣品的定位誤差,使得在長時間掃描中難以準確地保持對樣品的焦點。

補償方法:

溫度穩(wěn)定性: 保持掃描電鏡的環(huán)境溫度相對穩(wěn)定是減少熱漂移的有效方法。通過使用溫度穩(wěn)定的實驗室環(huán)境或安裝溫度控制系統(tǒng),可以減緩熱漂移的發(fā)生。

熱漂移校正: 一些掃描電鏡系統(tǒng)具有熱漂移校正功能,能夠通過實時監(jiān)測電子束位置的變化并進行相應的補償,從而減小熱漂移的影響。

使用低電流: 降低電子束的電流可以減小電子束對樣品的熱效應,從而減緩熱漂移的產(chǎn)生。

快速掃描: 在需要保持樣品焦點的情況下,通過使用快速掃描模式,可以減少掃描時間,降低熱漂移的影響。

金屬樣品支架: 采用具有良好導熱性的金屬樣品支架有助于更好地分散電子束的熱量,減小熱漂移的可能性。

ZEM20臺式掃描電鏡

ZEM20臺式掃描電鏡

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澤攸臺式掃描電鏡


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作者:澤攸科技