掃描電鏡（SEM）與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡有一些顯著的不同之處，包括以下幾點(diǎn)：

分辨能力： SEM具有更高的分辨能力，可以觀察到比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡更小的特征和微觀結(jié)構(gòu)。這是因為SEM使用電子束而不是可見光，電子波長遠(yuǎn)小于可見光波長。

樣品類型： SEM適用于觀察導(dǎo)電或?qū)w涂層的樣品，因為它需要樣品導(dǎo)電以排除電子束充電效應(yīng)。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡則可用于各種樣品類型，包括不導(dǎo)電的生物和無機(jī)材料。

放大倍數(shù)： SEM通常提供更高的放大倍數(shù)，可以放大數(shù)千至數(shù)百萬倍。這使得SEM適用于觀察微小的納米級和亞微米級結(jié)構(gòu)。

深度： SEM通常提供3D表面信息，因為它可以在樣品表面掃描電子束，并根據(jù)反射和二次電子發(fā)射來創(chuàng)建3D表面模型。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡通常提供2D圖像。

準(zhǔn)直性： SEM中的電子束是通過電子透鏡系統(tǒng)進(jìn)行準(zhǔn)直的，因此SEM在觀察非常細(xì)小的細(xì)節(jié)時能夠提供較高的清晰度。

光源： 傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡使用可見光作為光源，而SEM使用電子束。這也導(dǎo)致了SEM對真空環(huán)境的需求。

成本： SEM通常較傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡昂貴，不僅因為其技術(shù)要求，還因為其維護(hù)和操作成本相對較高。

ZEM20臺式掃描電鏡

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