掃描電鏡的電子束束縛模式，通常稱為束縛模式（或束縛控制模式），是一種操作模式，用于控制電子束的運(yùn)動(dòng)以實(shí)現(xiàn)不同的成像和分析需求。這個(gè)模式允許調(diào)整電子束的聚焦、掃描速度、束團(tuán)大小等參數(shù)。

電子束束縛模式的一些常見(jiàn)類型包括：

集中模式：在此模式下，電子束被聚焦到一個(gè)小的點(diǎn)上，通常用于高分辨率成像和微區(qū)分析。

掃描模式：電子束被聚焦成一個(gè)窄的束團(tuán)，然后以一定的模式（例如線掃描或柵格掃描）移動(dòng)，以獲取整個(gè)樣品的圖像。

聚焦模式：這個(gè)模式用于調(diào)整電子束的聚焦以適應(yīng)樣品表面的不平整性。

標(biāo)幅模式：用于選擇和聚焦電子束以進(jìn)行特定的分析，例如電子能譜分析（EDS）或電子衍射。

這些模式可以根據(jù)不同的掃描電鏡類型和品牌而有所不同，但它們?cè)试S操作員根據(jù)具體需求來(lái)調(diào)整電子束的參數(shù)，以獲得所需的成像和分析結(jié)果。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

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