掃描電鏡（SEM）的加速電壓是指加速電子束的能量。加速電壓的選擇會(huì)直接影響SEM圖像的質(zhì)量和特性。以下是加速電壓對(duì)圖像質(zhì)量的影響：

分辨率：加速電壓對(duì)SEM圖像的分辨率有直接影響。較高的加速電壓可以產(chǎn)生較短的電子波長(zhǎng)，從而提高圖像的空間分辨率。這意味著您可以更好地分辨樣品表面的細(xì)小特征。但是，過高的加速電壓可能會(huì)引發(fā)電子束穿透樣品表面，導(dǎo)致信號(hào)損失。

深度信息：低加速電壓可以在表面形成較深的電子云，從而獲得樣品表面的拓?fù)湫畔?。高加速電壓則會(huì)減少電子云的深度，可能導(dǎo)致一些表面細(xì)節(jié)無法被很好地捕捉。

信號(hào)強(qiáng)度：高加速電壓會(huì)產(chǎn)生更多的次級(jí)電子，這些次級(jí)電子在與樣品交互后返回并被探測(cè)器捕獲。因此，較高的加速電壓通常會(huì)提供更高的信號(hào)強(qiáng)度，從而產(chǎn)生更明亮、更詳細(xì)的圖像。

樣品損傷：高加速電壓可能導(dǎo)致樣品電離和電子束誘發(fā)的損傷，特別是對(duì)于非導(dǎo)電樣品。在選擇加速電壓時(shí)，需要考慮樣品的特性，以避免損傷。

表面充電效應(yīng)：低加速電壓通常會(huì)產(chǎn)生更強(qiáng)的表面充電效應(yīng)，導(dǎo)致圖像中的光斑和背景扭曲。在一些情況下，這可能會(huì)影響圖像的解釋和分析。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

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