透射電子探測(cè)器是一種用于掃描透射電子顯微鏡的探測(cè)器。在TEM中，電子束通過樣本而不是被樣本反射，從而形成高分辨率的顯微圖像。TED的作用是測(cè)量透射電子的強(qiáng)度，從而獲得關(guān)于樣本內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。

以下是透射電子探測(cè)器的工作原理：

透射電子產(chǎn)生： 在TEM中，電子束從電子槍發(fā)射并經(jīng)過一系列透鏡來聚焦，形成一個(gè)非常細(xì)的電子束。這個(gè)電子束通過樣本，與樣本中的原子和電子相互作用。

透射過程：透射電子探測(cè)器位于樣本的下方，沿著電子束的路徑。在樣本內(nèi)部，電子束與原子核和電子云發(fā)生相互作用，其中一部分電子會(huì)被散射，而另一部分電子會(huì)通過樣本，即透射電子。

電子探測(cè)：TED位于樣本下方的探測(cè)器會(huì)探測(cè)通過樣本的透射電子。當(dāng)透射電子通過探測(cè)器時(shí)，會(huì)引起電子探測(cè)器中的探測(cè)器元件產(chǎn)生電信號(hào)。

信號(hào)放大：探測(cè)器中的電信號(hào)會(huì)被放大，以便更好地分析。

信號(hào)處理：放大后的信號(hào)會(huì)被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，并通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理和記錄。

圖像重建：透過對(duì)樣本的掃描，電子探測(cè)器收集到的信號(hào)被用于重建圖像。電子顯微鏡的軟件會(huì)根據(jù)信號(hào)的強(qiáng)弱來形成樣本內(nèi)部的圖像，其中亮度和暗度反映了樣本內(nèi)不同區(qū)域的不同特性。

TED允許科學(xué)家和研究人員在原子尺度上觀察和分析樣本的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。透射電子顯微鏡結(jié)合了高分辨率的成像和化學(xué)分析功能，因此在材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中有廣泛的應(yīng)用。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

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