掃描電子顯微鏡（SEM）通常提供兩種操作模式：高真空模式和低真空模式。這兩種模式有以下不同之處：

真空條件：在高真空模式下，SEM工作在高度真空的環(huán)境中，通常在10^-3至10^-7帕的范圍內(nèi)。而低真空模式下，SEM可以在較低的真空水平中操作，通常在10至130帕之間。

樣品制備：在高真空模式下，樣品須具備一定的導(dǎo)電性，以避免電子束的散射和積累電荷。因此，在高真空模式下，通常需要對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行金屬涂覆或者利用碳納米管等導(dǎo)電涂層處理。而在低真空模式下，可以直接觀察非導(dǎo)電樣品，因?yàn)檩^高的氣壓有助于抑制電荷的積累。

分辨率和對(duì)比度：由于低真空模式下的氣體存在，電子與氣體分子之間發(fā)生碰撞，會(huì)導(dǎo)致電子束的散射。因此，低真空模式下的SEM相對(duì)于高真空模式下的SEM具有較低的分辨率和對(duì)比度。在低真空模式下，由于散射的存在，圖像可能會(huì)出現(xiàn)一些模糊或者失真的情況。

樣品適用性：低真空模式對(duì)于不具備導(dǎo)電性的樣品具有更廣泛的適用性。由于低真空環(huán)境下，電荷積累的問題較小，因此可以觀察更多種類的樣品，包括生物樣品、聚合物、纖維素材料等。

氣體環(huán)境：低真空模式可以通過在SEM內(nèi)部引入一些氣體，如水汽、氮?dú)獾龋瑏砜刂茪夥窄h(huán)境。這對(duì)于一些需要在特定氣氛中觀察樣品的應(yīng)用非常有用，例如對(duì)氧敏感的樣品進(jìn)行觀察。

綜上所述，高真空模式和低真空模式在真空條件、樣品制備、分辨率和對(duì)比度、樣品適用性以及氣體環(huán)境等方面存在差異。根據(jù)具體的觀察需求和樣品特性，選擇適合的模式進(jìn)行操作。   

ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) 

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