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臺式掃描電鏡需要進(jìn)行樣品制備嗎

日期:2023-06-05

臺式掃描電鏡(SEM)在進(jìn)行樣品觀察之前通常需要進(jìn)行一定程度的樣品制備。樣品制備的目的是為了準(zhǔn)備樣品以適應(yīng)SEM的成像要求,并確保獲得清晰、準(zhǔn)確的圖像。以下是一些常見的臺式掃描電鏡樣品制備步驟:

樣品固定:對于生物樣品或柔軟的樣品,需要將其固定在支持物上,以防止在掃描過程中發(fā)生形變或移動(dòng)。固定方法可以使用化學(xué)固定劑、冷凍或冷凝固等。

剖面制備:對于固體樣品,可以使用切割、研磨或磨削等方法來制備樣品的剖面。這些方法可以揭示樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和層次。

表面平整化:樣品的表面應(yīng)盡可能平整,以避免在掃描過程中產(chǎn)生高度變化或圖像失真。使用機(jī)械研磨、拋光或化學(xué)腐蝕等方法來平整樣品表面。

金屬涂覆:為了提高電子的導(dǎo)電性和減少充電效應(yīng),可以在樣品表面涂覆一層薄金屬,如金、鉑或碳。金屬涂覆可以通過濺射、蒸鍍或噴涂等方法實(shí)現(xiàn)。

真空處理:在將樣品放入SEM之前,通常需要進(jìn)行真空處理。真空處理可以減少氣體干擾和電子束與氣體相互作用的影響,提高圖像的質(zhì)量。

這些樣品制備步驟可能會(huì)因樣品類型、研究目的和SEM的具體要求而有所變化。重要的是根據(jù)實(shí)際情況選擇合適的樣品制備方法,并確保樣品在SEM觀察之前適應(yīng)SEM的工作環(huán)境和成像要求。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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作者:澤攸科技