臺(tái)式掃描電鏡（SEM）樣品的處理取決于所研究的材料和目的。對于某些樣品，例如生物樣品或柔性材料，處理可能包括固定、切片、染色、干燥等步驟，而不需要腐蝕。但對于其他材料，如金屬、陶瓷、半導(dǎo)體等，腐蝕處理可以提高樣品的表面質(zhì)量、形貌和結(jié)構(gòu)等方面的信息。

因此，如果需要獲得更高的SEM圖像質(zhì)量，可以考慮使用腐蝕處理來去除表面氧化物、粗糙度、晶界等，以獲得更好的表面特征。但是，腐蝕處理可能會(huì)改變樣品的化學(xué)成分或結(jié)構(gòu)，因此需要根據(jù)具體情況進(jìn)行謹(jǐn)慎處理。同時(shí)，腐蝕處理還需要謹(jǐn)慎控制條件，以避免損害樣品并影響SEM圖像的質(zhì)量。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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