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掃描電鏡的使用方法及注意事項(xiàng)

日期:2023-04-06

掃描電鏡(SEM)是一種高分辨率的顯微鏡,可以用于對(duì)固體、液體等樣品進(jìn)行觀察和分析。下面是SEM的使用方法:

樣品制備:對(duì)于固體樣品,通常需要將其表面處理,例如去除表面污染、涂覆導(dǎo)電膜等。對(duì)于液體樣品,需要將其固化或冷凍處理,并放置在導(dǎo)電性好的載體上。

裝載樣品:將樣品裝載到SEM的樣品臺(tái)上,并使用夾具或粘貼劑固定樣品。

調(diào)節(jié)SEM參數(shù):根據(jù)樣品特性,調(diào)節(jié)SEM的加速電壓、電子束聚焦、信號(hào)檢測(cè)參數(shù)等。

開(kāi)始觀察:使用SEM的操縱臺(tái),將電子束掃描到樣品表面,并觀察樣品的顯微圖像??梢允褂貌煌臋z測(cè)模式,例如反射電子顯微鏡(Backscattered Electron,BSE)和二次電子顯微鏡(Secondary Electron,SE)等。

分析樣品:通過(guò)SEM觀察和分析樣品的形貌、結(jié)構(gòu)和成分等信息??梢允褂貌煌姆治黾夹g(shù),例如能譜分析(Energy-dispersive X-ray spectroscopy,EDS)和電子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction,EBSD)等。

保存數(shù)據(jù):將觀察和分析得到的數(shù)據(jù)保存到計(jì)算機(jī)或其他儲(chǔ)存介質(zhì)中,并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。

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ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡


注意事項(xiàng):

SEM使用過(guò)程中需要保持樣品和SEM的干燥和真空環(huán)境,以避免樣品受潮或SEM受污染。

SEM操作需要進(jìn)行培訓(xùn)和授權(quán),遵守SEM使用安全規(guī)范。

在操作SEM過(guò)程中,需要避免對(duì)SEM設(shè)備和樣品造成損壞。

以上就是澤攸科技小編對(duì)掃描電鏡的使用方法及注意事項(xiàng)的介紹。更多掃描電鏡信息及價(jià)格請(qǐng)咨詢(xún)15756003283(微信同號(hào))。

掃描電鏡產(chǎn)品聯(lián)系方式


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作者:澤攸科技