通過掃描電鏡（SEM）可以測量和分析顆粒的尺寸和形狀。以下是一般的步驟和方法：

樣品制備：準(zhǔn)備包含顆粒的樣品，并確保樣品表面平整、干燥和導(dǎo)電性良好?？梢允褂貌煌姆椒?，如離心沉淀、沉積、過濾或噴涂等來制備樣品。

樣品固定：將樣品固定在SEM樣品支架上，通常使用導(dǎo)電性的雙面膠或?qū)щ娦蕴寄z將樣品粘貼在支架上，以確保樣品與SEM中的電子束良好接觸。

調(diào)整參數(shù)：根據(jù)樣品的性質(zhì)和需求，調(diào)整SEM的參數(shù)。這包括選擇適當(dāng)?shù)碾娮蛹铀匐妷?、工作距離和電子束的聚焦等。

掃描圖像：通過SEM獲取顆粒的掃描圖像。選擇合適的放大倍數(shù)和掃描速度，使用電子束掃描樣品表面，生成高分辨率的圖像。

計算尺寸和形狀：使用圖像處理軟件或SEM設(shè)備自帶的分析工具，對顆粒的圖像進(jìn)行處理和分析。以下是常用的方法：

直接測量：在圖像中使用測量工具，手動測量顆粒的直徑、長度、寬度等參數(shù)。

閾值分割：通過設(shè)定閾值，將圖像中的顆粒與背景區(qū)分開，然后進(jìn)行形狀分析，如圓度、長寬比等。

數(shù)據(jù)統(tǒng)計和分析：對測量的顆粒尺寸和形狀數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計和分析。可以計算平均尺寸、尺寸分布、形狀參數(shù)等，并生成統(tǒng)計圖表或報告。

需要注意的是，準(zhǔn)確測量和分析顆粒的尺寸和形狀需要一定的經(jīng)驗和合適的樣品制備。還要注意樣品表面的充電效應(yīng)和電子束對樣品的熱損傷等因素可能對結(jié)果產(chǎn)生影響。因此，在進(jìn)行測量和分析時，應(yīng)遵循合適的操作方法和儀器使用指導(dǎo)，并進(jìn)行多次重復(fù)測量以確保結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)

以上就是澤攸科技小編分享的如何通過掃描電鏡測量和分析顆粒的尺寸和形狀。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢15756003283(微信同號)。