掃描電鏡（SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，主要用于以下幾個(gè)方面。

提供高分辨率的表面形貌信息：SEM可以提供樣品表面的高分辨率圖像，可以觀察到樣品表面的微觀形貌，例如表面紋理、裂縫、孔洞等，以及各種微觀結(jié)構(gòu)，例如顆粒、晶體、纖維等。

確定樣品表面的成分：通過(guò)結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS）或其他化學(xué)分析技術(shù)，SEM可以確定樣品表面的化學(xué)成分和元素組成，例如金屬合金、陶瓷、纖維素等。

觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)和形貌變化：通過(guò)SEM可以觀察樣品表面在不同條件下的形貌和結(jié)構(gòu)變化，例如樣品的裂紋、變形、磨損、氧化等，可以為材料科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供有用的信息。

幫助進(jìn)行材料表面和界面的研究：SEM可幫助進(jìn)行材料表面和界面的研究，例如觀察納米材料的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶界等，還可以用于研究多相材料和復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu)和分布。

SEM可以提供高分辨率的表面形貌信息和化學(xué)成分信息，幫助進(jìn)行材料的表征和分析。在材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物科學(xué)等領(lǐng)域中，SEM是一種重要的表征工具。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

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