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ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測(cè)試嗎?

日期:2022-03-25

問(wèn):ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測(cè)試嗎?

答:ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以搭載各品類PicoFemto原位樣品臺(tái),輕松完成加熱、拉伸、低溫、電學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等原位SEM測(cè)量功能,詳情請(qǐng)?jiān)兛头?/span>

國(guó)產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡

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作者:澤攸科技