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如何提高掃描電鏡的放大倍數(shù)

提高掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數(shù)是為了觀察樣品的更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)。

中國化學(xué)會(huì)第34屆學(xué)術(shù)年會(huì)于2024年6月15日至18日在廣東省廣州國際白云會(huì)議中心舉行。

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在掃描電子顯微鏡（SEM）中，工作距離（working distance，WD）是指電子束槍到樣品表面的距離。

掃描電鏡（SEM）工作時(shí)鏡筒內(nèi)的真空度是確保電子束正常傳輸和樣品表面電子散射檢測的重要因素。

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中分析表面粗糙度是研究材料表面特性的重要方面。表面粗糙度可以影響材料的物理、化學(xué)和機(jī)械性質(zhì)，因此準(zhǔn)確分析表面粗糙度在材料科學(xué)、工程和其他領(lǐng)域中非常重要。

掃描電鏡（SEM）的背散射電子（BSE）圖像可以用于成分分析。背散射電子是從樣品中散射回來的高能量電子，其強(qiáng)度與樣品中原子序數(shù)的平均值有關(guān)。

在掃描電鏡（SEM）中，樣品如果沒有進(jìn)行噴鍍或其他導(dǎo)電處理，可能會(huì)出現(xiàn)以下問題：