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掃描電子顯微鏡每一個(gè)設(shè)計(jì)作品都精妙

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從“實(shí)驗(yàn)室巨獸”到“桌面英雄”:為什么說(shuō)ZEM Ultra是微觀世界的“哪吒”?

日期:2025-02-13

在納米科技的探索中,場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡被譽(yù)為觀測(cè)微觀世界的“超級(jí)顯微鏡”。然而過(guò)去三十年,這一領(lǐng)域長(zhǎng)期被海外巨頭壟斷,國(guó)產(chǎn)設(shè)備在全球市場(chǎng)中的占比嚴(yán)重不足,許多更是完全依賴進(jìn)口。這種技術(shù)壁壘不僅讓單臺(tái)設(shè)備價(jià)格飆升,更讓國(guó)內(nèi)科研機(jī)構(gòu)在設(shè)備維護(hù)、軟件升級(jí)等環(huán)節(jié)處處受制于人。

傳統(tǒng)場(chǎng)發(fā)射電鏡的“實(shí)驗(yàn)室巨獸”屬性,更是為科研工作戴上了“三重枷鎖”:龐大的體積讓多數(shù)高校實(shí)驗(yàn)室難以承載,高昂的購(gòu)置與維護(hù)成本令中小企業(yè)望而卻步,復(fù)雜的操作需求導(dǎo)致設(shè)備閑置率居高不下。這些痛點(diǎn),嚴(yán)重制約著中國(guó)在新材料、半導(dǎo)體、生物醫(yī)藥等關(guān)鍵領(lǐng)域的創(chuàng)新速度。

澤攸科技

然而,正如哪吒不甘被命運(yùn)束縛,澤攸科技也從未停止對(duì)技術(shù)壟斷的挑戰(zhàn)。澤攸科技?xì)v時(shí)8年攻堅(jiān)克難,于2024年推出了國(guó)產(chǎn)自研的場(chǎng)發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡ZEM Ultra,這是一場(chǎng)靜默的革命,也是一次從“追趕者”到“規(guī)則參與者”的躍遷。ZEM Ultra就像最近熱播動(dòng)畫(huà)中的哪吒打破常規(guī)、挑戰(zhàn)命運(yùn)一樣,它也打破了國(guó)際品牌對(duì)發(fā)射掃描電鏡市場(chǎng)的技術(shù)神話,以“更小、更智能、更普適”的理念,開(kāi)創(chuàng)了場(chǎng)發(fā)射電鏡的新賽道。

1、打破桎梏:國(guó)產(chǎn)儀器的“輕量化革命”

ZEM Ultra的體積僅為傳統(tǒng)電鏡的20%,無(wú)需特殊防震或磁屏蔽裝置,甚至可在普通實(shí)驗(yàn)臺(tái)、產(chǎn)線旁或移動(dòng)車廂內(nèi)運(yùn)行。這一突破不僅解決了高樓層實(shí)驗(yàn)室因承重限制無(wú)法安裝大型設(shè)備的痛點(diǎn),更將電鏡從“實(shí)驗(yàn)室專屬”拓展至工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)領(lǐng)域,真正實(shí)現(xiàn)“隨需隨用”的靈活性。

澤攸掃描電鏡

2、高精度成像:2.5納米分辨率的國(guó)產(chǎn)突破

ZEM Ultra采用先進(jìn)的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源,它具有高亮度、長(zhǎng)壽命的特點(diǎn),確保長(zhǎng)期穩(wěn)定的高質(zhì)量成像。結(jié)合三級(jí)獨(dú)立真空系統(tǒng),有效減少樣品污染,提高成像質(zhì)量,同時(shí)縮短抽真空時(shí)間。ZEM Ultra能夠提供優(yōu)于2.5納米的分辨率,滿足科研、工業(yè)及材料分析領(lǐng)域的高精度需求。

澤攸掃描電鏡

金顆粒150000X (左)碳納米管 20000X(右)

澤攸掃描電鏡

磷酸鐵鋰 30000X(左)二氧化硅 100000X(右)

3、環(huán)境適應(yīng)性:從“溫室設(shè)備”到“全天候戰(zhàn)士”

傳統(tǒng)電鏡對(duì)溫度、濕度、震動(dòng)敏感,而ZEM Ultra采用自適應(yīng)環(huán)境控制系統(tǒng),對(duì)環(huán)境依賴性低,即便在工業(yè)車間震動(dòng)環(huán)境下仍能保持成像穩(wěn)定性。這一特性使其成為材料研發(fā)、半導(dǎo)體質(zhì)檢等場(chǎng)景的“移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室”。

澤攸科技

4、功能拓展:從成像工具到科研生態(tài)構(gòu)建者

ZEM Ultra可配備多種探測(cè)器,包括 BSE(背散射電子探測(cè)器)、SE(二次電子探測(cè)器)和 EDS(能譜儀)等,能夠滿足多樣化的分析需求。同時(shí)該設(shè)備支持原位實(shí)驗(yàn)功能,可動(dòng)態(tài)觀察樣品在特定條件下的變化過(guò)程,并且可通過(guò)拓展EDS和EBSD功能進(jìn)一步增強(qiáng)對(duì)材料的分析能力,為用戶提供更全的研究支持。

納米力臺(tái)拉伸過(guò)程

納米力臺(tái)拉伸過(guò)程(左) 納米力臺(tái)壓縮過(guò)程(右)

5、一站式操作:從“專家專屬”到“一鍵成像”

ZEM Ultra具有一站式操作平臺(tái),界面友好,操作簡(jiǎn)便。用戶僅需鼠標(biāo)點(diǎn)擊即可完成從樣品裝載到多模態(tài)成像的全流程,非專業(yè)人員亦可30分鐘內(nèi)掌握操作,極大的降低了用戶學(xué)習(xí)成本。

澤攸科技

科學(xué)儀器的價(jià)值,在于讓探索未知的效率與可能性無(wú)限擴(kuò)展。而澤攸科技的突破絕非偶然。作為被《Nature》系列期刊報(bào)道的中國(guó)科學(xué)儀器企業(yè),其團(tuán)隊(duì)深耕電子光學(xué)領(lǐng)域多年,先后推出臺(tái)階儀、電子束光刻機(jī)等多款產(chǎn)品。正如哪吒贏得了世人的尊重,澤攸科技也正以顛覆性創(chuàng)新,重塑儀器產(chǎn)業(yè)格局。

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作者:澤攸科技