TEM冷凍樣品桿可以使被觀測(cè)樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對(duì)樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。

TEM冷凍樣品桿性能指標(biāo)：

● 兼容指定型號(hào)電鏡及極靴；

● 保證電鏡真空度；

● 溫度變化范圍：最低85 K；

● 可選高傾角版本。