透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)配STM-TEM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測量。

性能指標(biāo)
 

 透射電鏡指標(biāo)：

● 兼容指定電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾版本，雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學(xué)測量指標(biāo)：

● 包含一個電流電壓測試單元；

● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；

● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA；

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

掃描探針操縱指標(biāo)：

● 粗調(diào)范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 細(xì)調(diào)范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 細(xì)調(diào)分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

力學(xué)傳感器指標(biāo)：

● 懸臂梁彈性范圍1 N/m~100 N/m；

● 載荷分辨率優(yōu)于5 nN（使用1 N/m懸臂梁時）；

● 自動測量力-距離曲線，自動保存。

產(chǎn)品特色
 

（1）可保證電鏡原有分辨率，即使在球差內(nèi)也可以拍到清晰原子像；

（2）良好的操縱穩(wěn)定性，壓電陶瓷驅(qū)動方式，保證高精度的操縱。樣品桿具有很高的穩(wěn)定性  ，探針移動平穩(wěn)，實現(xiàn)高分辨原位觀察實驗；

（3）操作簡便，軟件界面友好易操作?？刂破骷呻娏麟妷簻y試單元，滿足大多數(shù)實驗需求。位移粗調(diào)和細(xì)調(diào)全軟件操作；