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如何通過掃描電鏡實現(xiàn)樣品的局部和全局成像？

通過掃描電子顯微鏡（SEM），可以實現(xiàn)樣品的局部和全局成像。這涉及到樣品的掃描方式和成像設置的調整。

通過掃描電子顯微鏡（SEM），可以通過能譜分析（EDS）獲得樣品的局部化學成分信息。

通過掃描電子顯微鏡（SEM）可以實現(xiàn)三維表面重建和虛擬切片，這需要使用多張二維圖像和圖像處理軟件。

通過掃描電子顯微鏡（SEM）進行材料表面形貌的定量分析是一種常見且有效的方法。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品表面充電是一個常見的問題。當樣品處于高真空環(huán)境下，并且受到來自電子束的照射時，可能會發(fā)生表面電子的發(fā)射和重新組合，導致樣品表面帶電。這會導致圖像失真、信號衰減以及可能損害樣品。

臺式掃描電鏡（SEM）的樣品轉臺支持的角度范圍可以因不同的型號和廠家而異，但通常在一定角度范圍內具有一定的轉動能力。

臺式掃描電鏡（SEM）的工作模式是連續(xù)波模式，而不是脈沖波模式。

傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡通常不能用于觀察活細胞。