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如何通過調(diào)節(jié)加速電壓優(yōu)化掃描電鏡中的深度分辨率

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，加速電壓對電子束的穿透深度和樣品的表面和深度信息分辨率有顯著影響。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，聚焦電流（或稱束流強度）對分辨率和圖像清晰度有著重要影響。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，圖像偽影（artifacts）可能會影響圖像的質(zhì)量和分析的準確性。

在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中，二次電子探測器 (Secondary Electron Detector, SE Detector) 是生成圖像的主要設(shè)備之一，它通過探測從樣品表面發(fā)射出的二次電子 (Secondary Electrons, SE) 來構(gòu)建圖像。

在掃描電鏡（SEM）?中，光束調(diào)制是指通過調(diào)整電子束的各種參數(shù)（如束流強度、掃描速度、加速電壓等）來影響成像的過程。

在掃描電鏡（SEM）?中對非導(dǎo)電樣品進行高真空條件下的成像可能會遇到電荷積累問題，這會導(dǎo)致圖像失真甚至損壞樣品。

在掃描電鏡（SEM）?中，優(yōu)化樣品的電荷補償非常重要，以確保圖像質(zhì)量和準確性。

在掃描電鏡（SEM）?中減少樣品的電子束損傷可以通過以下幾種方法實現(xiàn)：