在掃描電鏡（SEM）中，電子束與樣品之間發(fā)生多種相互作用，這些相互作用產(chǎn)生的信號(hào)被用于生成樣品的圖像和信息。以下是電子束與樣品相互作用的主要方式：

電子-電子相互作用： 高能電子束與樣品表面的電子發(fā)生相互作用，產(chǎn)生電子的散射。這些次級(jí)電子可以提供有關(guān)樣品表面拓?fù)浜托蚊驳男畔?，從而生成表面形貌的圖像。

電子-原子相互作用： 高能電子束與樣品中的原子發(fā)生相互作用，導(dǎo)致樣品原子的激發(fā)或離子化。這些反向散射電子的能量和角度可以提供有關(guān)樣品元素組成和原子密度的信息。

電子-光子相互作用： 電子束的相互作用可能會(huì)導(dǎo)致樣品中的原子釋放出X射線。這些特征X射線可以用于確定樣品的元素組成。

電子-聲子相互作用： 電子束的相互作用可能會(huì)導(dǎo)致樣品中的聲子激發(fā)，產(chǎn)生聲子振動(dòng)。這些聲子振動(dòng)的能量可以提供有關(guān)樣品的結(jié)構(gòu)和晶格信息。

電子-電磁場(chǎng)相互作用： 高能電子束的相互作用可以導(dǎo)致樣品表面產(chǎn)生電磁輻射，如熒光光子、紫外線等。這些輻射可以用于分析樣品的特定性質(zhì)。

這些相互作用所產(chǎn)生的信號(hào)被探測(cè)器捕獲，并通過適當(dāng)?shù)男盘?hào)處理和圖像重建技術(shù)轉(zhuǎn)化為可視化的圖像。不同的信號(hào)類型和相互作用方式提供了關(guān)于樣品的不同信息層面，使得掃描電鏡成為分析樣品表面形貌、元素組成、結(jié)構(gòu)以及其他特性的有力工具。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

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