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掃描電鏡對樣品的要求

掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可用于觀察材料表面的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和成分等。

掃描電鏡是一種常用的電子顯微鏡，它通過掃描電子束來檢測樣品的表面結(jié)構(gòu)和形貌。

掃描電鏡能譜儀是用來對材料微區(qū)成分進行分析的一種儀器，通常配合掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡及掃描透射電子顯微鏡使用。其工作模式一般為以下幾個方面。

SEM掃描電鏡通過電子束掃描樣品表面獲取樣品信息。

掃描電鏡與透射電鏡都是用來獲取樣品信息的設(shè)備，那么二者有何區(qū)別呢？

掃描電子顯微鏡是一種多功能的儀器，可以從樣品表面獲得樣品信息，掃描電鏡可進行以下分析：

SEM掃描電鏡具有景深大、分辨率高、成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬等特點。

掃描電鏡主要通過電子束掃描樣品表面獲得樣品信息，具有分辨率高、放大倍率范圍寬等特點，已廣泛應(yīng)用于多個領(lǐng)域。今天主要為大家分享掃描電鏡的成像原理。