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SEM原位解決方案每一個(gè)設(shè)計(jì)作品都精妙

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《Science》子刊:浙江大學(xué)團(tuán)隊(duì)揭示BCC鎢納米線中的反孿生變形機(jī)制

日期:2020-06-12

近日浙江大學(xué)電鏡中心張澤院士、王江偉研究員團(tuán)隊(duì)與佐治亞理工學(xué)院的朱廷教授團(tuán)隊(duì)合作,利用澤攸科技的PicoFemto系列TEM-STM原位透射電鏡樣品桿,通過(guò)原位透射電鏡納米力學(xué)測(cè)試技術(shù),在直徑小于20 nm的鎢納米線(體心立方結(jié)構(gòu)金屬)中觀察到反孿晶的成核和生長(zhǎng)現(xiàn)象,并結(jié)合分子動(dòng)力學(xué)理論模擬和密度泛函理論計(jì)算從理論上闡釋了反孿生行為的發(fā)生機(jī)制。該工作以"Anti-twinning in nanoscale tungsten"為題發(fā)表在Science旗下子刊《SCIENCE ADVANCES》上。DOI: 10.1126/sciadv.aay2792

原文https://advances.sciencemag.org/content/6/23/eaay2792.full  

    反孿生過(guò)程中,相鄰{112}面上發(fā)生連續(xù)的1/3<111>剪切,而不是普通孿生中反向的1/6<-1-1-1>剪切。這種原子尺度剪切路徑的不對(duì)稱性導(dǎo)致反孿生的出現(xiàn)比普通孿生變形難。他們發(fā)現(xiàn),由于小晶體體積中塑性剪切載體的數(shù)量有限,在高應(yīng)力下納米尺寸的BCC晶體中,反孿生可以變得活躍。這項(xiàng)工作為研究小體積BCC晶體的尺寸依賴變形提供了新的思路,并對(duì)利用非常規(guī)變形機(jī)制實(shí)現(xiàn)納米材料的高機(jī)械預(yù)成型具有指導(dǎo)意義。

原位TEM-STM電學(xué)測(cè)量樣品桿實(shí)驗(yàn)方法

《Science》子刊:浙江大學(xué)團(tuán)隊(duì)揭示BCC鎢納米線中的反孿生變形機(jī)制(圖2)

圖1 實(shí)驗(yàn)方法

     在該實(shí)驗(yàn)中,鎢針通過(guò)PicoFemto?原位TEM-STM電學(xué)測(cè)量樣品桿的壓電操縱模塊準(zhǔn)確對(duì)接另一側(cè)的鎢棒,在外加電壓的作用下,兩者在TEM內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的原位焊接,形成一根鎢納米線。納米線形成后可以繼續(xù)利用PicoFemto?原位TEM-STM電學(xué)測(cè)量樣品桿的物性測(cè)量和機(jī)械加載功能對(duì)該納米線進(jìn)行原位測(cè)試和表征。

原位采集的TEM照片

圖2 原位采集的TEM照片

   

 以上就是澤攸科技對(duì)浙江大學(xué)團(tuán)隊(duì)揭示BCC鎢納米線中的反孿生變形機(jī)制的介紹,關(guān)于文中實(shí)驗(yàn)使用的原位TEM-STM電學(xué)測(cè)量樣品桿價(jià)格請(qǐng)咨詢18817557412(微信同號(hào))

透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

 

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作者:小攸