澤攸科技的原位TEM/SEM解決方案已協(xié)助近50所高校/研究所用戶發(fā)表大量高質(zhì)量研究成果。為了進(jìn)一步開拓用戶的研究思路，公眾號(hào)未來將陸續(xù)更新一些原創(chuàng)研究成果，協(xié)助用戶充分發(fā)揮PicoFemto?原位樣品桿的功能。

   今天小編帶大家來回顧一篇Xin Zhang等人2017年發(fā)表在《Science》上的很棒的作品（文章題目：Direction-specific van der Waals attraction between rutile TiO2 nanocrystals. Zhang et al., Science 356, 434-437 (2017)）。我們知道，晶體之間的晶格取向決定了晶體間力的大小，其背后的理論模型已經(jīng)很好地建立起來了。但是呢，如何定量的測定他們之間的相互作用力仍然比較困難。在這個(gè)工作中，Xin Zhang等人研究了金紅石二氧化鈦納米晶體的相互取向和表面水化作用對范德華色散引力的影響。他們制備了取向確定的金紅石結(jié)構(gòu)的二氧化鈦（001）透射電鏡樣品，巧妙的利用AFM懸臂梁結(jié)合ETEM對金紅石納米晶之間的范德華色散力進(jìn)行了測量，系統(tǒng)地評估介入水的作用，并與利夫希茨理論的預(yù)測進(jìn)行定量比較。

   利用AFM-STM一體化樣品桿，我們可以借助透射電鏡的分辨率優(yōu)勢，以及電鏡的各種分析功能來研究不同材料在不同載荷下的形貌特征，結(jié)構(gòu)變化以及力學(xué)性能。此外，利用AFM的高分辨率力優(yōu)勢你也可以對小尺度的力進(jìn)行原位定量的實(shí)時(shí)測量。

   本期文章，小編利用氧化鋅納米線替代上述論文中的二氧化鈦，結(jié)合澤攸科技的PicoFemto?系列原位力-電一體樣品桿，對上述論文中的實(shí)驗(yàn)方法進(jìn)行還原。

圖1 文中實(shí)驗(yàn)結(jié)果（Science 356, 434-437 (2017)） 

圖2 本次實(shí)驗(yàn)中用到的PicoFemto原位力-電一體樣品桿

以下為本次實(shí)驗(yàn)中的測試數(shù)據(jù)：

一、不同應(yīng)力條件下單根納米線的形貌特征

注：本次實(shí)驗(yàn)中的原位視頻可關(guān)注文末公眾號(hào)后查看。

二、利用AFM力學(xué)桿對氧化鋅納米線和AFM針尖之間的范德華力進(jìn)行了測量

注：本次實(shí)驗(yàn)中的原位視頻可關(guān)注文末公眾號(hào)后查看。
 

   利用壓電陶瓷裝置將氧化鋅納米線移動(dòng)到接近彈性系數(shù)標(biāo)定過的AFM針尖時(shí)，納米線會(huì)迅速的被AFM 針尖吸引過去。隨后，我們緩慢移動(dòng)樣品遠(yuǎn)離AFM針尖，與此同時(shí)利用軟件獲取力和位移量的變化曲線。
 

三、同一樣品不同應(yīng)力下的形貌及Force-Displacement曲線

注：本次實(shí)驗(yàn)中的原位視頻可關(guān)注文末公眾號(hào)后查看。
     

以上就是澤攸科技對PicoFemto原位力-電樣品桿重復(fù)《Science》實(shí)驗(yàn)方法的介紹，關(guān)于文中使用的原位力電樣品桿價(jià)格請咨詢18817557412(微信同號(hào))

公司原位TEM/SEM系列核心產(chǎn)品：

1. 原位TEM/SEM亞納米操縱手

2. 原位TEM/SEM電學(xué)測量系統(tǒng)

3. 原位TEM/SEM力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)

4. 原位TEM/SEM光學(xué)-光電測量系統(tǒng)

5. 原位TEM/SEM加熱/電化學(xué)/電學(xué)/液體多功能測量系統(tǒng)

6. 原位TEM/SEM液體電化學(xué)測量系統(tǒng)

7. 原位TEM/SEM氣氛加熱測量系統(tǒng)

新品介紹：

1.單/雙傾TEM三樣品桿（一次載入三樣品，測試效率倍增）

2.帶等離子清洗的樣品桿預(yù)抽泵組

3.MEMS-STM-TEM一體化樣品桿（四場合一）

4.原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)（800℃高溫+100mN力學(xué)測量）

5.單/雙傾真空傳輸樣品桿

6.ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡（詳情請?jiān)诠倬W(wǎng)查看或?qū)た头?/span>